SN74LVTH182512DGGR - IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP

codice articolo del costruttore

SN74LVTH182512DGGR

Numero parte interna

ABC-SN74LVTH182512DGGR

fabbricante

T-I

Breve descrizione

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP

Stato RoHS

Senza piombo / Conforme RoHS

Tempo di consegna

1-2 giorni

quantità disponibile

187312 Pieces

Prezzo di riferimento

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Specifiche per SN74LVTH182512DGGR

Qualità garantita : 365 giorni di garanzia

Risorsa stock : Distributore / produttore in franchising diretto

Paese d'origine : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI

Numero parte : SN74LVTH182512DGGR

fabbricante : T-I

Descrizione : IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP

Serie : 74LVTH

Stato parte : Active

Tipo di logica : ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers

Tensione di alimentazione : 2.7V ~ 3.6V

Numero di bit : 18

temperatura di esercizio : -40°C ~ 85°C

Tipo di montaggio : Surface Mount

Pacchetto / caso : 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)

Pacchetto dispositivo fornitore : 64-TSSOP

Peso : -

Condizione : Nuovo e originale

Link correlati : SN74LV , SN74LVTH1

Documenti per SN74LVTH182512DGGR

Schede tecniche : SN74LVTH182512DGGR.pdf

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