SN74BCT8240ADWRE4 - IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

codice articolo del costruttore

SN74BCT8240ADWRE4

Numero parte interna

ABC-SN74BCT8240ADWRE4

fabbricante

T-I

Breve descrizione

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Stato RoHS

Senza piombo / Conforme RoHS

Tempo di consegna

1-2 giorni

quantità disponibile

57879 Pieces

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Specifiche per SN74BCT8240ADWRE4

Qualità garantita : 365 giorni di garanzia

Risorsa stock : Distributore / produttore in franchising diretto

Paese d'origine : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI

Numero parte : SN74BCT8240ADWRE4

fabbricante : T-I

Descrizione : IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Serie : 74BCT

Stato parte : Obsolete

Tipo di logica : Scan Test Device with Inverting Buffers

Tensione di alimentazione : 4.5V ~ 5.5V

Numero di bit : 8

temperatura di esercizio : 0°C ~ 70°C

Tipo di montaggio : Surface Mount

Pacchetto / caso : 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

Pacchetto dispositivo fornitore : 24-SOIC

Peso : -

Condizione : Nuovo e originale

Link correlati : SN74B , SN74BCT8

Documenti per SN74BCT8240ADWRE4

Schede tecniche : SN74BCT8240ADWRE4.pdf

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